上海市高新技术企业 高新技术成果转化项目 上海市计量制造许可单位 CQC ISO9001:2008 质量管理体系 上海硬度计技术-低价质高,造型精美,功能出色的优质硬度计制造商
一般光学硬度计配合对焦寻形原理测量三维表面轮廓 利用一般光学硬度计配合对焦寻形(Shape from Focus,SFF)原理,并结合小相邻反捲积 (nearestneighbor deconvolution,NND)技术即可重建出待测物的三维表面轮廓。 但在量测待测物过程中,若因待测物的表面资讯不足, 则会导致反射光讯号弱,造成讯噪比(Signal-to-Noise Ratio)差,则待测物的三维表面重建杂讯较多, 因此在撷取影像时,CCD 会重複撷取影像再取其平均值以改善讯噪比,由于这个重複撷取影像过程, 会使整体量测的时间增长,为了使量测时间缩短, 可选用较高讯噪比的 CCD摄影机,如此一来,就可兼顾讯噪比与整体系统量测的时间