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| 第二届表面与显微技术国际论坛(IFSM 2017)成功举办 |
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继2015年7月23-25日在哈尔滨召开国内光学显微成像的专题会议后，“第二届表面与显微技术国际论坛(IFSM 2017)”于8月7日-9日在黑龙江省哈尔滨市成功举办。分别来自英国牛津大学、英国哈德斯菲尔德大学、印度卡纳塔克邦国家技术研究所、台湾阳明大学、美国杜克大学、香港城市大学，以及北京大学、清华大学、浙江大学、中国科学技术大学、复旦大学、上海交通大学、中山大学、哈尔滨工业大学、北京航空航天大学、天津大学、华中科技大学、国防科学技术大学、北京理工大学、华侨大学、深圳大学、合肥工业大学、上海理工大学、北京信息科技大学等国内著名高等学府，国家纳米科学中心、中国计量科学研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海应用物理研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院微电子研究所、中国科学院自动化研究所、中国科学院深圳先进技术研究院、中国工程物理研究院等科研单位和卡尔蔡司、鑫图光电、锘海生物、科仪、哈尔滨芯明天等企业内的行业专家学者欢聚哈尔滨共襄盛会。大会开幕现场 大会由国家自然科学基金委员会(NSFC)、中国光学工程学会(CSOE)、中国仪器仪表学会(CIS)、哈尔滨工业大学、哈尔滨市科学技术协会联合主办，中国计量测试学会计量仪器专业委员会、中国宇航学会光电专业委员会承办，天津津航技术物理研究所、中国科学院分子影像重点实验室联办。大会旨在汇聚从事显微技术的专业人员开展学术交流，为科研工作者提供一个展示前瞻性观点，探讨关键技术的平台。会议主题不仅包括光学显微技术研究与应用的广泛领域，如：纳米硬度计技术、高光谱成像技术、非线性激发显微成像、荧光相关光谱技术、光学相干层析成像、共聚焦显微技术、白光干涉显微技术、暗场显微成像技术、差分成像技术、相衬显微技术、多光子显微技术和超分辨成像技术等;还包括与显微仪器密切相关的表面科学与工程的研究与应用进展。组委会诚邀上海理工大学的庄松林院士担任大会共主席，英国皇家工程院院士、牛津大学Tony Wilson教授，哈尔滨工业大学谭久彬教授，中国科学院自动化研究所田捷研究员共同担任大会共主席。英国皇家工程院院士、牛津大学Tony Wilson教授开幕式致辞哈尔滨工业大学刘俭教授主持开幕式 8月8日上午8：30，IFSM 2017正式开幕。大会由会议程序委员会主席、哈尔滨工业大学刘俭教授主持，大会共主席牛津大学Tony Wilson教授致开幕式辞。会议组织委员会主席、哈尔滨科学技术协会副主席赵晓丹、台湾阳明大学高甫仁教授、上海应用物理研究所肖体乔研究员、布鲁克公司苏全明博士、印度卡纳塔克邦国家技术研究所Narendranath教授、华中科技大学刘晓军教授、程序委员会委员华侨大学崔长彩、天津大学郭彤及学会副秘书长邓伟共同出席。大会现场 大会报告由牛津大学Tony Wilson教授和台湾阳明大学高甫仁教授主持，本届大会共有5位国内外专家做大会报告，包括台湾阳明大学高甫仁教授，报告题目是“Stimulated Gain and Spontaneous Loss Imaging in Pump-Probe Microscopy”，中国科学院上海应用物理研究所肖体乔研究员，报告题目是“X-ray Microtomography with High Brightness Synchrotron Radiation Light Source”，中国科学院长春光学精密机械与物理研究所杨怀江研究员课题组苏东奇博士，报告题目是“Ultra—precise optical fabrication in NA0.75 lithography projection objective”，布鲁克公司苏全明博士，报告题目“Scanning Probe Microscopy Based Spectroscopy Measurement for Nanoscale Chemical Identification”，哈尔滨工业大学刘俭教授，报告题目是“Recent Advances on Medium Aided Scattering Confocal Microscopy”。精彩的报告反映出国际和国内本领域先进的发展状况，引起了与会代表们积极讨论和强烈反响。与会代表认真听会 会议共组织了6个分专题的报告，包括光学立体显微技术及应用、表面计量与标准化、超分辨成像及衍射光学、生物光学成像方法、生物光学材料及生物光学显微系统。共安排了26篇技术报告，其中邀请专家报告20篇，口头交流报告6篇。邀请报告包括英国哈德斯菲尔德大学高峰教授、天津大学胡春光副教授、哈尔滨工业大学刘正君教授、国家纳米中心程志海研究员、北京大学席鹏教授课题组王淼妍博士、清华大学杨怀栋教授、香港城市大学王立代博士、中山大学周建英教授课题组关国荣博士、北京大学陈良怡教授、杜克大学姚俊杰博士、中国科学院自动化研究所惠辉副研究员、天津大学张尹馨副教授、华中科技大学刘晓军教授、华侨大学易定容教授、印度卡纳塔克邦国家技术研究所Narendranath教授、华侨大学崔长彩教授、浙江大学斯科教授、中国科学技术大学关勇博士、北京信息科技大学吴思进副教授等。口头交流报告分别来自中国科学院微电子研究所、华中科技大学、内蒙古大学、北京高能物理研究所、中国科学院深圳先进技术研究院等单位。报告人都是工作在科研一线的研究人员，在本领域取得突出的工作成果，会议时间安排紧凑、会场交流气氛浓厚、讨论热烈。专题主持认真负责，积极调动和控制会议氛围，交流很有收益。茶歇交流 会议自筹备以来，受到本领域科技人员的关注和积极响应。共收到投稿75余篇，会议投稿部分推荐到《Journal of microscopy》、《红外与激光工程》、《光子学报》等合作期刊，其余发表在SPIE会议文集(EI检索)。 两天的报告很精彩，报告技术方向丰富，工作很有特色，赢得参会代表的高度评价。会议将持续举办，不断促进本领域技术的完善与发展。下一届会议暂定2019年召开，主要围绕“显微测量、材料表征和生物成像”三个主题开展，欢迎大家持续关注。与会代表合影
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