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| 光学硬度计检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒 |
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光学硬度计检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒 许多共他方法对测定陶瓷材料的相分布、形貌及特性是有用的。相显微检查技术使深度分辨力大大增加。对抛光切片或薄切片采用偏振光，则有助于相的鉴别。 立体显微术、X 射线显微术、暗视场电子显微术、以及许多其他特殊方法都是有用的，并应对每一个特殊问题考虑可行的方法。 适宜的方法因样品而异，而且任一普通规则都可能遭遇到许多例外。 对大多数研究目的来说，制备抛光切片并用光学显微术或扫描电子显微术和X 射线衍射或显微相鉴定法检验抛光切片，构成一个良好的基本检测程序 陶瓷导论所依据的主要原理之一是陶瓷制品的性质不仅取决于相的组成和结构，还取决于相的排列。 成品的相分布或显微组织取决于初始的制造工艺、所采用的原料、相平衡关系以及相变动力学、晶粒长大和烧结。 能测定的显微组织的特征是 （1 ）现有的相的数目和识别，包括孔隙在内， （2 ）每一个相的相对数量， （3 ）每一个相的特征，例如相的大小、形状和取向 研究显微组织的方法。研究显微组织采用过许多不同的方法，广泛使用的两种光学方法是：用透射光观察薄切片和用反射光观察抛光切片。薄切片法采用光线透过0.015~0.03毫米厚的切片。 制备切片时，从材料上切下一个薄片，将薄片的一面抛光，把这个面粘在硬度计的载玻璃上，然后将另一面研磨并抛光，以得到所要求的均匀厚度的切片。这种方法的优点是，能测定每一个相的光学性质，从而鉴定出所有的相。这个方法有两个 主要缺点：，样品制备困难；第二，许多细品粒陶瓷材料的个别晶粒，其尺寸小于切片厚度，这将引起混乱，尤其对于一个不熟练的人更是如此。总之，需要有相当的经验才能好地利用薄切片法。
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