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| 一般包裹体的粒度常小于50μm-测量硬度计型号 |
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一般包裹体的粒度常小于50μm-测量硬度计型号 在冷热台上的光学图像远比标准硬度计成像差。因此，测试之前的包裹体研究工作是在标准硬度计下进行的，寻找到理想的包裹体，确定包裹体的成因类型和捕获后是否变化， 估测包裹体的成分、盐度和近似的均一温度，大量的记录、素描和摄像等工作在标准硬度计下进行更方便和效果更佳。认真细致的进行这些工作将节省花费在测试实验上的大量时间，更重要的是能捕获到更多的成岩成矿信息。 多数包裹体的粒度常常小于50μm(0.05mm) ，使用普通国产硬度计时，通常放大250 倍后才容易找到包裹体，要详细观察包裹体的内部细节，至少要放大到400 倍~500倍。高放大倍数对单个包裹体的研究是必要的， 但也不应忽视低倍镜的使用。100 倍或更低的低倍系统能观察到样品中更大视域内的情况，因此观察者首先应该使用低放大(x 100)系统对整个片子进行粗略的浏览， 确定可能存在的包裹体位置。低倍(x 100) 镜下样品中平均粒度10μm 左右的包裹体呈小黑点状以群体或呈枝蔓状定向分布，这时把物镜换成较高的倍数，对准黑色斑点，同时提升物台下聚光镜使其更接近样品，调整好焦距，包裹体就清晰可见了。 使用低倍镜对揭示包裹体生长带、颗粒边界和显微裂隙之间的关系十分方便，这对确定包裹体的成因类型很有好处。因此包裹体观察过程中经常是交替使用低放大倍数和高放大倍数系统。
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