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| 熔合物浇注的熔合物显微结构变化研究金相硬度计 |
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熔合物浇注的熔合物显微结构变化研究金相硬度计 熔合物的研究采用金相X 射线分析和显微硬度测量的方法研究熔合物的相组成与结构X 射线系采用粉末照象法，镍靶，晶格参数测量的精确度为0.01% ，显微硬度是在型仪器上测定的，荷重50克。 显微硬度的数值用以估计各个相组分与结构组分的硬度，以及用以测定熔合物的均化程度与确定单相区域的边界。 试验熔合物的熔制是按上述条件于1600-1700 ℃下进行的，在高温度时短时间保温。 熔合物经过扩散退火，在TBB-2 型炉中氩气氛下1350℃退火48小时。 当浇注的熔合物退火时末观察到显微结构有明显的变化。 为了显露熔合物磨光片的显微结构，在20%KOH溶液中电解腐蚀。 金相研究指出，碳含量在0.7%以下的熔合物是单相的，这个区域的熔合物为粗粒结构，如果注意到现熔融的纯硅以及单相区域的熔合物，当腐蚀时出现平行线的那种独特显微结构，显然这与硅的晶体结构的特征相联系的。 碳含量高于0.8%的熔合物具有两相的结构；明亮的基底是碳地硅中的固溶体，暗色者是碳化硅。 碳含量增加时碳化物相的数量随着增加，单相区域熔合物固溶体显微硬度随碳含量增加而显著上升，易从850-890 公斤/ 毫达到1225公斤毫米，在两相区域的范围内，碳含量在2-3%以下改变时，相的显微硬度实际上并不随之变化。 碳化硅晶体的显微硬度的平均值为3180公斤/ 毫米。 分布在相图区域内的熔合物的X 射线研究指出，有两个相存在，基于硅的相和基于碳化硅的相同，这两相的晶格参数末发现变化，因为得到的数据均在测量精确度的范围以内。 金相与X 射线分析以及各个相的显微硬度测量结果。
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