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| 光切硬度计测量或光学截面表面粗糙度测量仪 |
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光切硬度计测量或光学截面表面粗糙度测量仪 对于不透明覆层厚度则应采吊有损测量。在这两种测量方法中，由于仪器的原因或使用不当，都可能影响测量结果的准确度．对于有损测量，若试样制备的质量不佳，则乏对测量结果产生影响。下面就有关影响因素加以叙述。 (1)表面粗糙度光学法测量覆层厚度一般都非常薄，因而要求基体表面的加工粗糙度很低，一定要非常平滑。如果覆层和基体表面粗糙，或者覆层和基体表面相对于覆层厚度是粗糙的，9lb在观察视场内，将由于覆层和基体的界面不规则，而不可能进行准确的测量。 (2)断面不正 当抛磨试样断面或加工台阶断面不垂直，在测量厚度时，可能会产生误差。在断面硬度计测量中，一般每倾斜10°由此导致的误差达1．5％。 (3)覆层变形 在断面硬度计和扫描电子硬度计测量中，如对试样的镶嵌温度过高或压力过大，都有可能造成试样的覆层变形；对软覆层或低温易熔化覆层进行断面抛磨，以及对脆性材料过分砂磨，都可能造成覆罢变形，将会带来测量误差。 (4)覆层边缘磨圆 覆层断面边缘如被磨圆，则不成平面，这样在硬度计观察就很难测出真实厚度。在试样镶嵌、研磨、抛光、浸蚀等操作中，如操作不适当都有可能导致边缘被磨圆．通常，在抛磨试样上加一层保护层，则可以防止边缘磨圆．(5)浸蚀：当浸蚀试样条件佳，将会在两种金属界面形成清晰的狭窄边界线。如果条件不佳，则边界线宽，也不清晰，因而不可能准确地测量。 (6)表面沾污 当抛光试样断面留有沾污的金属，特别是在铅、铟、金等软金属界面情况下容易发生，以致界面不易准确地测量。对此，一般采取多次抛光和多次测量的方法。 (7)对比度差当两种金属原子序数十分相近，如光亮镍和半光亮镍，在扫描电子硬度计测量时，它们可见对比度差，除非浸蚀边界很清晰，以及采用适当的测试方法，否则是难以识别的．
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