用于电子工业上测量零件镀层厚度用工具硬度计|新闻-上海研润光学硬度计厂

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用于电子工业上测量零件镀层厚度用工具硬度计

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用于电子工业上测量零件镀层厚度用工具硬度计半导体零件测量干涉硬度计用于电子工业上，主要是测量镀层厚度，即高度测量，所以测量方法和前类同。当干涉硬度计用于测量微小角度时，仪器的孔径光栏可以开得小一些。等黑度法测量表面光洁度用干涉方法测量表面光洁度，往往采用目估方法。其原因之一是测量高表面光洁度(如▽13,▽14)时，千涉条纹弯曲量仅为条纹宽度的1/3和1/6，用目镜十字线来对准条纹微小弯曲很困难，给测量带来很大误差，故一般采用目视估计法，此方法也能得到一定的精度。如果一定要对高光洁度表面进行精确测量，则可采用等黑度法。等黑度方法比较麻烦，但可作精确测定，同时可以增加判别干涉图形的经验;例如哪种干涉图形属于▽14光洁度等，以提高目视估计的可靠性。光度计直接测量底片上各点的黑度，将黑度相同点连成等黑线。用这种方法需要光度计，工作量较大。为此，可采用由底片经过处理来得到等黑度线。

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