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测矿物粒度的大颗粒与小颗粒特征图像硬度计 |
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测粒度矿物的大颗粒与小颗粒特征计量图像硬度计 一般程序测量与标绘构造岩薄片在低倍镜下看可以是不均匀的。因此,象纹层、褶皱和斑状变晶这样的显微域,应当在显微照片或素描上圈定,并把每个域的优选方位资料单独记录下来,对于的特殊意义的分析——例如,实验变形材料的分析,甚至应当对每个被测颗粒进行编号并记在照片上。 如果岩石是不等粒的,通常在一个特定域中只测量其中一部分颗粒。测量时常用的取样方法是,在薄片上布一系列平行的横测线。这些测线要与紧贴滑动尺水平臂的薄片底边保持一致的方位。每条测线的位置要加以记录,这分两方面,其一是记下滑动尺上的读数;其二是把测线标在薄片的显微照片上。这样来记录在后来如果须要作补充测量时,可以再布补充的中间测线,而不用担心会与先前的测量资料重复。 在粒度或测矿物的任一明显特征出现显著变化的情况下,应当按不同的对应类型——大颗粒与小颗粒,雾状颗粒与清洁颗粒等等——分开记录方位资料,这并不须要附加的工作量,如果以后表明对应类型的方位资料在型式上一致,把分开的记录和标绘合起来就是了。
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