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颗粒度分析视频电子硬度计-颗粒图像分析软件 |
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颗粒度分析视频电子硬度计-颗粒图像分析软件 在任何分析中,关于颗粒的佳测量数目都没有固定不变的规定,这是因为其中存在一个过去很少被注意的统计学问题,如果测量的颗粒数太少,就不能得到完全的方位型式,而且作出的方位图会过分受可见的或不被观测者怀疑的显微域的影响。相反,如果测量的颗粒数过多,就会不适当地占用本该用于另一样本的时间。一般地说,对于石英光轴和云母解理,测量400 到500 个颗粒是合适的;对于二轴晶矿物的三个光率体轴或对于方解石光轴和伴生的双晶中解理面,100 到200 个颗粒是佳测量数目——特别是组构是均匀的,横测线间距宽的情况下是如此。 显微亚组构与小型褶皱的几何关系是特别重要的,此间的主要问题是,确定隐含在褶皱面中的构造不均匀性,是否伴随有显微亚组构的相应不均匀性。在确定后者是否均匀,必须要切自一个单褶皱不同域的一套定向薄片上,逐个薄片地进行研究。
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