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晶粒大小的测量就是要测出两种晶粒的晶粒度级别
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晶粒大小的测量就是要测出两种晶粒的晶粒度级别 双重晶粒组织 金属中具有双重晶粒组织(混晶组织)的情况也不少,双重晶粒组织具有晶粒面积、直径及线截距的双峰频率分布,双重晶粒组织有两种情况,一种表现为界线分明的细晶区团和粗晶区团,即在大晶粒基体中包含小晶粒或与之相反,另一种则表现为少量超出正常晶粒大小分布范围的晶粒散布于正常晶粒基体上。 双重晶粒组织的晶粒大小的测量就是要测出两种晶粒的晶粒度级别,并确定它们的比率,前一种情况比较简单,只要用较低的倍率在随机选择的若干视场中对细晶区和粗晶区进行点计数来确定其体积积分率,然后再在适当的较高倍率下分别测量其晶粒度级别,而后一种情况就比较困难,好的办法就是测出整个晶粒线截距的频率分布,然后再把数据分成两个组来分别计算,提出用几组间隔为5mm的平行线栅格在0°、45°、90°、135°4个方向上测量线截距,然后按线截距大小以每1mm间隔(在测量放大倍数下)把数据分组,画出频数分布图后就可以划分出细晶区和粗晶区,并分别进行计算。

 


 
 
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