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| 光学元件超显微硬度测试技术的应用-膜厚度测量 |
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光学元件超显微硬度测试技术的应用-膜厚度测量 超显微硬度测试对评价光学膜薄的材料特性如硬度和断裂强度具有实用价值的仪器。由于测试结果在很大程度上取决于所选择的实验参数，用微处理机使这种测试仪自动化，用以控制负载增大速率，负载时间以及调节刻划器等，已证明有效，这种超显微硬度的结果取决于穿透隙薄朦膜厚度的比例，即一定不可超过0.2，以免影响基底的硬度。 如刻蚀不清晰，则对超显微硬度的解释较难，使用维克斯公司的刻划器对在软的塑料基底上镀有硬的膜，常可能产生这种不清晰的情况，对这种试样，似乎使用诺柏公司的刻划器较有益处，能打出更清晰的刻痕。 一般说来，大多数红外涂层材料稍软于可见光波长的介质涂层材料，当清洗这些表面时，必须注意以防止损伤，而本实验的结果表明，一次清洗所引起的划痕是不多的，或者不影响其性能，当一个新的光学元件装入系统中时，必须用干净的干燥氮气，或过滤过的，无碳氢化合物的压缩空气喷吹，以却灰尘，用过的光学元件常常需要作更多的物理情况。 相平辐射公司光学分部制作的全反射镜是使用有保护膜的银膜，或者是增加反射率的银膜，有保护的银膜是这二种软件 一种，清洁技术建议用“滴及拖”法，这是以一或二滴适当的溶剂，如试剂级的丙酮或甲醇，滴在清洁的擦镜纸上，并且沿着一定方向“拖擦”其下面的光学元件，这种膜层，如果在清洁时压得重些，将很容易擦伤。 增加反射率的银膜，外面一层为硫化锌，它是很耐用的，内高腔反射镜用这种膜层反射率大于99.5%，它们经得起溶剂，柔软的擦镜纸以及中等的手的压力反复清洁，部分反射镜以及增透膜，均有硬的介质膜层，它们可以用类似的方法清洗。
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