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| 熔化法和烧结法制造的焊接点硬度便携金相硬度计 |
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熔化法和烧结法制造的焊接点硬度便携金相硬度计晶粒的大小与方向（硬度） 在开断频率比较高的弱电流使用条件下对银接进行寿命试验，并对所作的寿命试验结果进行统计处理，则其损耗量和接触电阻与硬度具有相同的关系。 由塑性变形产生的内部应变，在晶粒内外非常不均匀，受腐蚀时，应变大的地方成为阳极，接点的情况也是一样，应变分布不均匀时，应变大的部分放电容易集中，当粉末状氧化物进入其微小的损耗部分时接触增大，放电更易集中到该处，故往往使损耗加大，内部应变分布的不均匀比内部应变的大小对损耗的速度影响更大。 用熔化法和烧结法制造的接点，当硬度、纯度、表面光洁度完全相同时，比较其结果。 这是因为烧结金属与铸造金属的本质差别在于前者的多孔性质，而其他金属性质却完全没有本质上的差别，用熔化法制造时晶界物质的大部分是由固体构成的，而在烧结金属的晶界物质中含气体多。 另外，铸造金属的固体晶界物质通常是由具有很大结合力的化合物组成，但这些化合物与晶粒之间的结合力一般比较弱，则这种薄弱性在外观上主要表现为晶粒脆弱，但这种晶粒脆弱性采用烧结法可以去除。 因此熔化法的接点在放电时，晶界物质与晶粒之间结合薄弱部分比晶界物质的破坏大，晶界物质破坏所生成的粉末状氧化物少，并且在低电压电路中，由于感应在接点产生高电压比通过接点间的电流对损耗的影响大，所以，主要是由感应所产生的高电压使前述的结合力薄弱部分受到很大的破坏。
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