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X射线微区分析定量技术的基本原理-测量硬度计
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X射线微区分析定量技术的基本原理-测量硬度计 如果设定了以上的条件,那么有许多衍射图像也可以用手算进行解析。如果采用简单的电子计算机的话,解析的范围就会更加扩大。总之,不论怎样解析,对这类物质进行某些定性,并且知道它们的晶系及晶格常数.都要有一定的条件,只用单晶的衍射花样来定性完全未知的物质是不可能的。 X射线分析法 电子硬度计是把电子束照射到试样上,从试样中能够放出它固有的X射线。如果把电子束变细,使它仅仅照在分析目标的颗粒(或区域)上,然后做X射线分析.就可能进行颗粒组成元素i内分析。这样就可以从完全未知的物质中得到一些信息。再把这些信息与上述的电子衍射法并用,便可以在鉴定未知物质方面开辟瓶的途径。 近几年,X射线分析仪采用了美国所发明的能量分散型X射线检测仪。这种检测仪与过去的波长分散型相比,其受光面积大(不使用分光晶体)。因为检测效率高,所以电子束对试样的照射量可以很小。这与照射面积可以变小的理论有关。但是,这里所检测出的铁和锰也有可能是包含在针状晶体之内的。这就是这种分析方法的缺点。即使电子束确实照射在针状晶体L,散射电子在碰到其邻近的颗粒L时.也会从那里放射出X射线。如果不常常想到这一点。也会产生意想不到的误差。这就是X射线微区分析定量法的基本原理。对测定值再进行吸收修正,荧光激发修正等计算,后便可以决定其含量。在这种分析法中,如果试样的尺寸极小,可忽略一些修正项。 纯物质的X射线强度与波长分散型检测仪的分光晶体结构有关。因为检测的波长不同,检测仪的几何位置也不同,咽此强度与原子序数并不具有特殊的关系。

 


 
 
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