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| 样本比较分析-装配级失效的检测光学硬度计 |
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样本比较分析-装配级失效的检测硬度计EOS失效分析——傅里叶变换红外光谱仪 傅里叶变换红外(FTIR)光谱是一种有损失效分析技术，可用于评估有机污染。有机污染导致的EOS可以引起高电阻短路。在傅里叶变换光谱中，采用测量技术收集发射光谱。发射光谱的收集是基于对相干辐射源的测量。辐射源发射的收集就是采用电磁辐射或其他类型辐射的时域或空间域测量。在这种技术中，傅里叶变换就是将原始数据转换成发射光谱。 FTIR光谱法用于在装配级失效的检测。好对失效位置和未失效位置或者失效样品和未失效样品行进对比分析。通过这种方式，不应该存在的有机物质可以与原本就有的有机物质分离。这种方法对辨别究竟是EOS、EOV、EOC或EOP在失效中的起作用是很有价值的。 EOS失效分析——离子色谱法 离子交换色谱法是用来评估装配级和电路板级失效是否与污染物或基于离子间的失效有关，也被称为离子色谱法(IC)[6I。离子交换色谱是一个根据离子和极性分子的电荷来让它们分离的过程。该方法用于确定该失效是否是高电阻短路机制导致的表面传导相关的失效。离子污染会导致出现电气失效特征，这通常被认为与EOS有关；这是一个排除EOS事件电阻短路的好方法。这种方法通常不会用来进行器件或ESD分析。 评估电气失效，重要的是要有一个可控样本进行比较分析。这样，“好”样品的离子水平可以与“失效”样品进行比较。可以在可能出现电气特征的局部区域或整个表面(比如，整体污染)对印制电路板的失效特征进行评估。如果发现“坏”标本是全局污染并且检测到电阻，就可以排除这不会是EOS事件。如果失效是局部的并且评估显示有丝状物形成、尖峰、电介质破裂和离子污染，那么有可能是过电流、过电压或过电应力造成的。
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