上海市高新技术企业 高新技术成果转化项目 上海市计量制造许可单位 CQC ISO9001:2008 质量管理体系 上海硬度计技术-低价质高,造型精美,功能出色的优质硬度计制造商

上海研润光机科技有限公司
因勤奋而专业,   因年轻而创造
低价质高,   造型精美 ,  功能出色
“研润”品牌仪器,   材料科学的生命力
“研润”MRO直销中心,让您的产品更安全
洛氏硬度计 维氏硬度计 显微硬度计 布氏硬度计
公司简介
硬度计展示
硬度计软件
硬度计服务
联系我们
English
Japanese
洛氏硬度计(15-45/60-150)kgf
显微硬度计(10-1000)gf
维氏硬度计(0.2-50)kgf
布氏硬度计(62.5-3000)kgf
邵氏硬度计
巴氏硬度计
里氏硬度计
韦氏硬度计
标准硬度块
实验室保养
实验室搬迁
硬度计案例
硬度计技术
研润发展历程
研润人才与招聘
上海研润光机科技有限公司前身是国家仪器技
术研究所,成立于2005年,是一家以研发、
生产、非标定制自动化生产检测设备,计算机
软件开发为主的高新技术企业。主导产品:材
料仪器、光学仪器、自动化生产检测设备等。
硬度计技术新闻
洛氏硬度计技术新闻
维氏硬度计技术新闻
布氏硬度计技术新闻
显微硬度计技术新闻
4008127833/021-58391850
扫一扫关注我们
 
光学硬度计-检测金属失效、层间介质、接触熔化
本站文字和内容版权为上海研润光学硬度计硬度计制造厂所有http://www.yr1718.net;转载请注明出处
光学硬度计-检测金属失效、层间介质、接触熔化EOS失效分析——光学硬度计 常见的一种ESD事件的失效分析技术是光学硬度计(OM)。光学硬度计使用可见光,简单而且成本低。从历史上看,它们是评估ESD事件常用的工具。光学硬度计的放大功能足以用来确定金属失效、层间介质(ILD)开裂、接触熔化和硅损伤。 大多数ESD失效分析使用光学硬度计和去层工艺相结合的方法。比如,要评估硅失效,移除所有绝缘薄膜可以对硅设备中发生的ESD损伤晶型快速评估。金属布线、连接线、硅化物、金相结、阳极一阴极损伤之类的ESD二极管失效可以用OM来检测。ESD MOSFET失效,如金属、连接线、硅化物和MOSFET源极一漏极失效都可以用OM观察。因此,大多数的ESD失效是可以通过OM和去层观察得到。 OM的限制之一是观察MOSFET栅极结构的电介质失效能力。幸运的是,这些事件发生有限。带电设备模型(CDM)事件能引起MOSFET、多晶硅界的栅二极管、栅埋层电阻、金属一绝缘体一金属电容结构中的电介质失效。当今的第二个限制是金属层数和“填充形状”。各种层次的金属互连线和填充形状导致很难通过样品去层手段将损伤可视化。 EOS失效分析——扫描电子硬度计 扫描电子硬度计(SEM)通常用于ESD失效分析。SEM使用高能电子束轰击物质表面:电子束以光栅扫描模式迅速扫描。表面的电子束和原子的相互作用提供了表面形貌和电导率的信息。电子束发生背散射,背散射电子形成图像。

 


 
 
合作站点:
合作站点:
合作站点:
合作站点:
 
 
打印本页
上海研润光机科技有限公司 版权所有   厂址:上海市南奉公路1478号   电话:4008127833/021-58391850   公司简介   硬度计售后  
沪ICP备05061730号                Copyright 2005 - 2017   硬度计技术   硬度计新闻   硬度计链接  

SitemapX  SitemapX  SitemapX  Xenu 

在线客服
热线电话

微信公众号