上海市高新技术企业 高新技术成果转化项目 上海市计量制造许可单位 CQC ISO9001:2008 质量管理体系 上海硬度计技术-低价质高,造型精美,功能出色的优质硬度计制造商
常用显微术比较
光学显微术( OM )
扫描电子显微术( SEM )
穿透电子显微术( TEM )
扫描探针显微术( SPM )
横向解析度
300 nm
1 nm
原子级
纵向解析度
20 nm
10 nm
无
成像范围
1mm
0.1mm
成像环境
无限制
真空
样品准备
简单
镀导电膜
手续繁复
成份分析
有
SitemapX SitemapX SitemapX Xenu