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硬度计数字成像技术的概念是什么?------新闻标题
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在单个光电二极管的有限的充电容量,充电的最大传输能力的CCD,达到的条件下,在所有的CCD图像传感器CCD的饱和度和开花 - 饱和度和晕染。一旦出现饱和负责收集现场照片产生溢出额外费用结果,在积累,或盛开,到相邻的设备结构的多余电子。一个潜在的不良影响开花的数量可以反映在传感器的输出范围从黑白图像条纹和错误的像素信号值完成输出放大级的崩溃,产生一个黑暗的形象。

每个晶片包含几十到数百个相同的设备,每个完全能够生产单CCD在数码相机中使用的芯片。这种分子表达硬度计摄影入门的部分包含了链接到重要的CCD数字成像技术,形成了一个完整的理解关键的概念

 
 
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