光学硬度计上的CCD或CMOS图像传感器的光电二极管阵列所产生的捕捉图像的效率是取决于多种因素，从物镜的数值孔径，并决议，电子图像传感器的光电二极管阵列大小，宽高比视频耦合器放大倍率，光敏阵列内的个别元素的尺寸。

终的光学分辨率的CCD是一种光电二极管和其规模相对预计到阵列表面的硬度计镜头系统图像的功能。目前可用的CCD阵列，大小不等，从几百到成千上万的像素。现代阵列用于科学调查的设备中使用的尺寸范围从1000×1000 5000×5000传感器元件。在消费和科学级CCD制造的趋势是传感器的尺寸不断下降，数码相机为4×4微米是目前可用的小型光电二极管。

在衍射极限的光学仪器，如硬度计，阿贝极限平均可见光波长（550纳米）的光学分辨率为0.20微米，使用时有一个1.4的数值孔径的物镜。在这种情况下，传感器的尺寸为10平方微米，将大到足以让匹配的光学和电子的决议，以7×7微米传感器尺寸首选。虽然在CCD图像传感器的光电二极管，提高空间分辨率，也限制了设备的动态范围。